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簡要描述：半導體電子器件冷熱沖擊試驗箱特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動
產(chǎn)品型號AP-CJ廠商性質生產(chǎn)廠家更新時間2025-09-17訪 問 量354產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
半導體電子器件冷熱沖擊試驗箱適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經(jīng)溫及低溫的沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。
愛佩半導體電子器件冷熱沖擊試驗箱質量優(yōu)勢：主要核心配件均采用國際的配件如法國泰康或德國比澤爾壓縮機，控制器有韓國三元、日本OYO、中國臺灣臺通供客戶選擇，繼電器有日本路宮、和泉、三菱、施耐德，美國杜邦環(huán)保冷媒，丹麥(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，能確保冷熱沖擊試驗箱長期正常的運行。
半導體器件（semiconductor device）通常，這些半導體材料是硅、鍺或砷化鎵，可用作整流器、振蕩器、發(fā)光器、放大器、測光器等器材。為了與集成電路相區(qū)別，有時也稱為分立器件。絕大部分二端器件（即晶體二極管）的基本結構是一個PN結。利用不同的半導體材料、采用不同的工藝和幾何結構，已研制出種類多、功能用途各異的多種晶體二極，可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信 號和進行能量轉換。晶體二極管的頻率覆蓋范圍可從低頻、高頻、微波、毫米波、紅外直至光波。三端器件一 般是有源器件，典型代表是各種晶體管（又稱晶體三極管）。
半導體電子器件冷熱沖擊試驗箱技術參數(shù)表：
| |||||||
AP-CJ-80A AP-CJ-80B AP-CJ-80C | AP-CJ-150A AP-CJ-150B AP-CJ-150C | AP-CJ-250A AP-CJ-250B AP-CJ-250C | AP-CJ-1000A AP-CJ-1000B AP-CJ-1000C | ||||
標稱內容積（升） | 80 | 150 | 250 | 300 | |||
試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | ||||||
性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | ||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤30分鐘 | ||||||
低溫室 | 預冷溫度范圍 | －75－0℃ | |||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤30分鐘 | ||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | |||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+150）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | ||||||
溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內 | ||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | ||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||
內部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 700 | 1000 | ||
H | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
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